INSTRUMENTS ET APPAREILS D'OPTIQUE, DE PHOTOGRAPHIE OU DE CINÉMATOGRAPHIE, DE MESURE, DE CONTRÔLE OU DE PRÉCISION > INSTRUMENTOS Y APARATOS DE ÓPTICA, FOTOGRAFÍA O CINEMATOGRAFÍA, DE MEDIDA, CONTROL O PRECISIÓN; INSTRUMENTOS Y APARATOS MEDICOQUIRÚRGICOS; PARTES Y ACCESORIOS DE ESTOS INSTRUMENTOS O APARATOS > Osciloscopios, analizadores de espectro y demás instrumentos y aparatos para medida o control de magnitudes eléctricas; instrumentos y aparatos para medida o detección de radiaciones alfa, beta, gamma, X, cósmicas o demás radiaciones ionizantes
| Codigo | Descripcion | Arancel |
|---|---|---|
| 9030100000D | Instrumentos y aparatos para medida o detección de radiaciones ionizantes | 0.000 % |
| 9030200000D | Osciloscopios y oscilógrafos | 0.000 % |
| 9030310000 | Los demás instrumentos y aparatos para medida o control de tensión, intensidad, resistencia o potencia (distintos de los utilizados para medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores) | - |
| 9030310000 | Multímetros, sin dispositivo registrador | - |
| 9030310010D | Destinados a aeronaves civiles | - |
+14 sub-codigos
| Osciloscopios y oscilógrafos |
| 0.000 % |
| Los demás instrumentos y aparatos para medida o control de tensión, intensidad, resistencia o potencia (distintos de los utilizados para medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores) | - |
| Multímetros, sin dispositivo registrador | - |
| D | Destinados a aeronaves civiles | - |
| D | Los demás | 0.000 % |
| D | Multímetros, con dispositivo registrador | 0.000 % |
| Los demás, sin dispositivo registrador | - |
| Instrumentos para medidas de resistencia | - |
| D | Destinados a aeronaves civiles | - |
| D | Los demás | 2.100 % |
| D | Los demás | 0.000 % |
| D | Los demás, con dispositivo registrador | 0.000 % |
| D | Los demás instrumentos y aparatos, especialmente concebidos para técnicas de telecomunicación (por ejemplo: hipsómetros, kerdómetros, distorsiómetros, sofómetros) | 0.000 % |
| Los demás instrumentos y aparatos | 0.000 % |
| D | Para medida o control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados) | 0.000 % |
| D | Los demás, con dispositivo registrador | 0.000 % |
| D | Los demás | 0.000 % |
| D | Partes y accesorios | 0.000 % |
CTH or 45% value