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Materialuntersuchungseinheit eines Transmissions Elektronen Mikroskops (TEM) in Form einer Warenzusammenstellung in Aufmachung für den Einzelverkauf, bestehend aus einem in Bezug auf die Verwendung charakterbestimmenden TEM-Halter (siehe Abbildung in der Anlage), einer elektronisches Kontrolleinheit und einem Laptop. Der TEM-Halter ermöglicht es, mit dem TEM die nano-mechanische Eigenschaften von Materialien zu prüfen. Dazu wird mit einer Spitze die Probe mit einer Kraft im Bereich weniger µN belastet und eine Kraft-Weg-Kurve aufgenommen und am Laptop dargestellt. Die Untersuchung dient dazu, Veränderungen im Material zu messen und diese in situ elektronen-optisch mit dem TEM zu visualisieren. Die Ware wird als "Zubehör, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der Unterposition (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.

Sog. LaB6-Kathode, Art. 0840-00142, im Wesentlichen bestehend aus einem Lanthanhexaborid(LaB6)-Kristallfaden, der als primäre Elektronenstrahlquelle dient und der zwischen zwei Kohlenstoffblöcken in einer sog. Mini-Vogel-Berg-Halterung aus zwei Molybdän-Rhenium Haltestäben in einer Keramikbasis positioniert ist. Die LaB6-Kathode wird in die obere Vakuumkammer (UHV) der Elektronensäule des Rasterelektronenmikroskops "AKT-EBT" eingesetzt, das zur Pixel-Testung und LCD-Matrix-Prüfung bei der Herstellung von Flachbildschirmen verwendet wird. Zur äußeren Form siehe Abbildungen in Anlage. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich für andere als optische Mikroskope bestimmt, kein Teil von Geräten der Unterposition 9012 1010 " eingereiht.

Sog. Strahlführungsrohr für Elektronenmikroskope, in Form eines rohrartigen Bauteils aus Metall mit Ablenkelementen, das zur Beschleunigung der vom Elektronenstrahlerzeuger (electron gun) erzeugten Elektronen während der Weiterleitung zur Nutzungsstelle dient. Zur äußeren Form siehe technische Zeichnung in Anlage. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich bestimmt für andere als optische (hier: Elektronen-)Mikroskope, anderes als in der Unterposition (TARIC) 9012 9010 00 genannt" eingereiht.

Materialuntersuchungseinheit eines Transmissions Elektronen Mikroskops (TEM), so genannte PI95 TEM PicoIndenter, im Wesentlichen bestehend aus einem TEM Halter, einer elektronisches Kontrolleinheit und einem Laptop. Der PI95 wird in TEM verwendet, um nano-mechanische Eigenschaften von Materialien zu prüfen. Dazu wird mit einer Spitze die Probe mit einer Kraft im Bereich weniger µN belastet und eine Kraft-Weg-Kurve durch den PI95 aufgenommen und am Laptop dargestellt. Die Untersuchung dient dazu, Veränderungen im Material zu messen und diese in situ elektronen-optisch mit dem TEM zu visualisieren. Eine Einreihung in die Pos. 9010 kommt nicht in Betracht, da es sich bei der Ware nicht um Ausrüstungen für fotografische Laboratorien handelt. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der UPos (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.

Edelstahl Haltevorrichtung eines Rastertunnelmikroskops, so genannte STM Aarhus, Trägermechanik , im Wesentlichen bestehend aus einer ca. 400 mm langen Gerät mit einem Durchmesser von ca. 150 mm, an der sich eine Aufhängung, welche die Halterung für eine Vibrationskopplungsmechanik mit eingebautem Mikroskop und Scanner (nicht Gegenstand dieser Auskunft) ist, befindet. Die Trägermechanik wird in Rastertunnelmikroskope eingebaut und dient der Aufnahme der das Probenstück untersuchenden Nadel. Eine Einreihung in die UPos. (KN) 9012 1090 kommt nicht in Betracht, da es sich bei der Ware laut Anmeldung um die Trägermechanik eines Rastertunnelmikroskops handelt. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der UPos (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.