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Sog. Strahlführungsrohr für Elektronenmikroskope, in Form eines rohrartigen Bauteils aus Metall mit Ablenkelementen, das zur Beschleunigung der vom Elektronenstrahlerzeuger (electron gun) erzeugten Elektronen während der Weiterleitung zur Nutzungsstelle dient. Zur äußeren Form siehe technische Zeichnung in Anlage. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich bestimmt für andere als optische (hier: Elektronen-)Mikroskope, anderes als in den Unterpositionen (TARIC) 9012 9010 00 bis 9012 9090 10 genannt" eingereiht.

Objektträger für Transmissionselektronenmikroskope (TEM), so genannte TEM-Netzchen, im Wesentlichen bestehend aus einem im Durchmesser 3,05 mm großen Plättchen mit einer nach Ausführung variierenden Dicke von 8 µm bis 30 µm aus Kupfer, Nickel oder Gold mit unterschiedlicher Oberflächenstruktur (äußere Form: siehe Abbildung in der Anlage). Auf das Netzchen wird ein poliertes Material aufgeklebt oder das Netzchen in eine Lösung getaucht. Später wird diese Probe in ein TEM eingeschleust und untersucht. Die Netzchen dienen der Präparation von zu untersuchenden Proben. Die Ware wird als "Zubehör, erkennbar ausschließlich oder hauptsächlich für Mikroskope der UPos (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.

Materialuntersuchungseinheit eines Transmissions Elektronen Mikroskops (TEM), so genannte PI95 TEM PicoIndenter, im Wesentlichen bestehend aus einem TEM Halter, einer elektronisches Kontrolleinheit und einem Laptop. Der PI95 wird in TEM verwendet, um nano-mechanische Eigenschaften von Materialien zu prüfen. Dazu wird mit einer Spitze die Probe mit einer Kraft im Bereich weniger µN belastet und eine Kraft-Weg-Kurve durch den PI95 aufgenommen und am Laptop dargestellt. Die Untersuchung dient dazu, Veränderungen im Material zu messen und diese in situ elektronen-optisch mit dem TEM zu visualisieren. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der UPos (KN) 9012 9090 bestimmt" eingereiht.

Teil eines Transmissionselektronenmikroskops, sog. Objektivlinse, im Wesentlichen bestehend aus einem 214 mm langen Zylinder mit einem Durchmesser von 250 mm aus unedlem Metall. In diesem befinden sich im Wesentlichen Spulen, die magnetische Felder erzeugen, die dazu bestimmt sind die Elektronen zu fokussieren. Die Objektivlinse kann auch gemeinsam mit einem sog. Korrektor gestellt werden, der dazu dient, auftretende Fehler des Elektronenstrahls zu berichtigen. Die Ware wird als "Teil, erkennbar hauptsächlich bestimmt für ein anderes als optisches Mikroskop, anderes als Energiefilter zum Anbringen an den Säulen von Elektronenmikroskopen" eingereiht. Abbildung: siehe Anlage

Materialuntersuchungseinheit eines Transmissions Elektronen Mikroskops (TEM) in Form einer Warenzusammenstellung in Aufmachung für den Einzelverkauf, bestehend aus einem in Bezug auf die Verwendung charakterbestimmenden TEM-Halter (siehe Abbildung in der Anlage), einer elektronisches Kontrolleinheit und einem Laptop. Der TEM-Halter ermöglicht es, mit dem TEM die nano-mechanische Eigenschaften von Materialien zu prüfen. Dazu wird mit einer Spitze die Probe mit einer Kraft im Bereich weniger µN belastet und eine Kraft-Weg-Kurve aufgenommen und am Laptop dargestellt. Die Untersuchung dient dazu, Veränderungen im Material zu messen und diese in situ elektronen-optisch mit dem TEM zu visualisieren. Die Ware wird als "Zubehör, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der Unterposition (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.