Materialuntersuchungseinheit eines Transmissions Elektronen Mikroskops (TEM) in Form einer Warenzusammenstellung in Aufmachung für den Einzelverkauf, bestehend aus einem in Bezug auf die Verwendung charakterbestimmenden TEM-Halter (siehe Abbildung in der Anlage), einer elektronisches Kontrolleinheit und einem Laptop. Der TEM-Halter ermöglicht es, mit dem TEM die nano-mechanische Eigenschaften von Materialien zu prüfen. Dazu wird mit einer Spitze die Probe mit einer Kraft im Bereich weniger µN belastet und eine Kraft-Weg-Kurve aufgenommen und am Laptop dargestellt. Die Untersuchung dient dazu, Veränderungen im Material zu messen und diese in situ elektronen-optisch mit dem TEM zu visualisieren. Die Ware wird als "Zubehör, erkennbar hauptsächlich für Mikroskope der Unterposition (KN) 9012 1090 bestimmt" eingereiht.

AV 1 / AV 3 b) / AV 6 Anm 2 b) Kap 90 ErlKN AV 3 (HS) RZ 19.1