Angaben: Wafer aus dotiertem Silicium, nicht lithografisch bearbeitet. Feststellungen: Dünne, runde, beidseitig glänzende, silberfarbene Scheibe mit einem Durchmesser von ca. 150 mm mit einer ca. 60 mm langen Abschnittkante. Lithografisch o.ä. aufgebrachte Strukturen sind nicht erkennbar. Die Scheibe befindet sich in einer Kunststoffbox. Befund: Silicium, zur Verwendung in der Elektronik dotiert, in Scheiben.

AV 1 und AV 6 ErlKN Pos 3818 (HS) RZ 01.0 und 02.0 Ein Halbleiterbauelement liegt nicht vor.