MICROSCOPE EN CHAMP FORCE (A FORCE ATOMIQUE). IL COMPORTE UN SCANNER PERMETTANT DE DETECTER LES VARIATIONS DE HAUTEURS DE L'ECHANTILLON PAR EXPLOITATION DES FORCES EXISTANTES ENTRE LA SURFACE ET UNE POINTE TRES FINE DISTANTE DE QUELQUES NANOMETRES. CE MICROSCOPE DELIVRE UNE MESURE PRECISE DES DIMENSIONS EN X, Y ET Z (SCANNER : 50X50 MICROMETRES, 100X100 MICROMETRES EN OPTION). DIMENSIONS : 245X294X443MM. POIDS : 26KG. PUISSANCE : 200W.

RG 1 ET RG 6 : LE CLASSEMENT EST DÉTERMINÉ PAR LES DISPOSITIONS DES RÈGLES GÉNÉRALES 1 ET 6 POUR L'INTERPRÉTATION DE LA NOMENCLATURE COMBINÉE, LES NOTES DE SECTIONS ET DE CHAPITRES AINSI QUE PAR LE LIBELLÉ DES CODES NC 9012, 901210 ET 90121090. NESH DE LA POSITION 9031 b) PAGE XVIII-9031-1 : EXCLUSION DES MICROSCOPES DE LA POSITION ET RENVOI AUX POSITIONS 9011 ET 9012.