MICROSCOPE À SONDE LOCALE OU AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPE), QUI PERMET DE VISUALISER LA MORPHOLOGIE DE LA SURFACE DES ÉCHANTILLONS À L'ÉCHELLE DU NANOMÈTRE. UNE POINTE DE TAILLE NANOMÉTRIQUE EST MISE EN CONTACT AVEC L'ÉCHANTILLON ET LE SCANNE LIGNE PAR LIGNE. LES INFORMATIONS SONT TRANSMISES À UN ORDINATEUR POUR ÊTRE REGROUPÉES SOUS FORME D'IMAGES. ON PEUT AINSI ANALYSER LA TOPOGRAPHIE DE LA SURFACE MAIS AUSSI MESURER DIFFÉRENTES PROPRIÉTÉS DE L'ÉCHANTILLON : DURETÉ, TEMPÉRATURE, ETC. LA TÊTE DE L'AFM SE COMPOSE D'UNE DIODE LASER, D'UN MIROIR ET D’UNE CELLULE PHOTOÉLECTRIQUE. CET ARTICLE PEUT LE CAS ÉCHÉANT ÊTRE COUPLÉ AVEC UN SPECTROMÈTRE.

Règles générales 1 et 6 : le classement est déterminé par les notes de section et de chapitre, ainsi que par le libellé de position, de sous-position et de code NC 9012, 901210 et 90121090. NESH de la position 9027 page XVIII-9027-6 point c) : exclusion des microscopes de la position et renvoi aux positions 9011 ou 9012.