Recherche douanière

Partie d'un microscope électronique appelée source d'électron, contenant une pointe en tungstène et un dispositif de focalisation.

MICROSCOPE À SONDE LOCALE OU AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPE), QUI PERMET DE VISUALISER LA MORPHOLOGIE DE LA SURFACE DES ÉCHANTILLONS À L'ÉCHELLE DU NANOMÈTRE. UNE POINTE DE TAILLE NANOMÉTRIQUE EST MISE EN CONTACT AVEC L'ÉCHANTILLON ET LE SCANNE LIGNE PAR LIGNE. LES INFORMATIONS SONT TRANSMISES À UN ORDINATEUR POUR ÊTRE REGROUPÉES SOUS FORME D'IMAGES. ON PEUT AINSI ANALYSER LA TOPOGRAPHIE DE LA SURFACE MAIS AUSSI MESURER DIFFÉRENTES PROPRIÉTÉS DE L'ÉCHANTILLON : DURETÉ, TEMPÉRATURE, ETC. LA TÊTE DE L'AFM SE COMPOSE D'UNE DIODE LASER, D'UN MIROIR ET D’UNE CELLULE PHOTOÉLECTRIQUE. CET ARTICLE PEUT LE CAS ÉCHÉANT ÊTRE COUPLÉ AVEC UN SPECTROMÈTRE.

MICROSCOPE EN CHAMP FORCE (A FORCE ATOMIQUE). IL COMPORTE UN SCANNER PERMETTANT DE DETECTER LES VARIATIONS DE HAUTEURS DE L'ECHANTILLON PAR EXPLOITATION DES FORCES EXISTANTES ENTRE LA SURFACE ET UNE POINTE TRES FINE DISTANTE DE QUELQUES NANOMETRES. CE MICROSCOPE DELIVRE UNE MESURE PRECISE DES DIMENSIONS EN X, Y ET Z (SCANNER : 50X50 MICROMETRES, 100X100 MICROMETRES EN OPTION). DIMENSIONS : 245X294X443MM. POIDS : 26KG. PUISSANCE : 200W.